快速溶剂萃取系统_半导体推拉力测试机_上海宝英光电科技有限公司

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表面污染測(cè)量儀

簡(jiǎn)要描述:PAM系列表面污染測(cè)量儀為便攜手持式設(shè)備,配備閃爍體探測(cè)器,用于α、β和γ放射性核素的表面活度測(cè)量。

  • 產(chǎn)品型號(hào):PAM
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間:2023-07-19
  • 訪  問  量:572

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌產(chǎn)地類別進(jìn)口
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PAM系列表面污染測(cè)量儀為便攜手持式設(shè)備,配備閃爍體探測(cè)器,用于α、β和γ放射性核素的表面活度測(cè)量。


表面污染測(cè)量儀技術(shù)規(guī)格:



PAM-100

PAM-170

探測(cè)面積


100cm2

170cm2

探測(cè)器類型


塑料閃爍體/Zns+塑料閃爍體

能量范圍


0.2~5.5MeV

可選γ探測(cè)器


GM管

測(cè)量范圍


0.1µSv/h-100mSv/h

尺寸


120 × 109 ×   223mm

130 × 129 ×   226 mm

重量


小于1.2Kg

小于1.4Kg

電源


2節(jié)堿性或者可充電電池

電池壽命


約120小時(shí)

工作溫度


-20 - +40 °C

濕度


90%


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